ASTM F 1263-1999 电子元件辐射试验中超限试验数据的分析
作者:标准资料网 时间:2024-05-07 04:17:19 浏览:8388
来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardGuideforAnalysisofOvertestDatainRadiationTestingofElectronicParts
【原文标准名称】:电子元件辐射试验中超限试验数据的分析
【标准号】:ASTMF1263-1999
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:导则;分析;监督(认可);电子设备及元件
【英文主题词】:analysis;electronicequipmentandcomponents;guidelines;surveillance(approval)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_020
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:电子元件辐射试验中超限试验数据的分析
【标准号】:ASTMF1263-1999
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:导则;分析;监督(认可);电子设备及元件
【英文主题词】:analysis;electronicequipmentandcomponents;guidelines;surveillance(approval)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_020
【页数】:
【正文语种】:英语
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